一 范圍

 

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低壓絕緣子瓷件的技術(shù)要求、試驗(yàn)、包裝和標(biāo)志的一般要求。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于直流電壓低于1000V的或交流電壓低于1000V、頻率不超過(guò)100Hz的架空電力線路、電氣裝置和設(shè)備上使用的絕緣子瓷件。

本標(biāo)準(zhǔn)不適用于在有破壞瓷及釉的介質(zhì)（氣體或液體）中工作的瓷件。

 

 

二 規(guī)范性引用文件

略

 

 

三 術(shù)語(yǔ)

 

見(jiàn) 高壓絕緣子瓷件技術(shù)條件 中 二術(shù)語(yǔ)。

 

 

四 材料與工藝

 

低壓絕緣子瓷件按材料和工藝可分為以下兩類：

符合IEC60672-1：1995的C100硅質(zhì)瓷，濕法成形制造；符合IEC60672-1：1995的C111硅質(zhì)瓷，干法成形制造。

 

 

五 技術(shù)要求

 

5.1尺寸偏差

 

5.1.1干法成形瓷件的尺寸偏差

除另有規(guī)定，干法成形瓷件的尺寸偏差應(yīng)符合表1的規(guī)定。

瓷件爬電距離的負(fù)偏差，不應(yīng)超過(guò)表1中非主要尺寸欄規(guī)定的下偏差值，對(duì)上偏差值不作規(guī)定。

 

5.1.2濕法成形瓷件的尺寸偏差

除另有規(guī)定，濕法成形瓷件的尺寸偏差應(yīng)符合表2的規(guī)定。

瓷件爬電距離的負(fù)偏差，不應(yīng)超過(guò)表1中非主要尺寸欄規(guī)定的下偏差值，對(duì)上偏差值不作規(guī)定。

 

5.2形位偏差

 

5.2.1平行度

瓷件兩平行平面（兩裝安裝面或安裝平面與端面）的平行度公差應(yīng)符合表3的規(guī)定。

 

5.2.2平面度

瓷件安裝支承面的平面度公差應(yīng)符合表4的規(guī)定。

 

5.2.3直線度

管（或棒）型瓷件的軸直線度公差不應(yīng)超過(guò)瓷件高度（或長(zhǎng)度）的1％。

 

5.2.4圓度

5.2.4.1干法成形瓷件的圓度公差不應(yīng)超過(guò)如下規(guī)定：

a）當(dāng)尺寸偏差選定為表1主要尺寸等級(jí)Ｉ的瓷件，其圓度公差不應(yīng)超過(guò)該表主要尺寸欄中等級(jí)Ⅱ規(guī)定的上（或下）極限偏差的絕對(duì)值。

b）當(dāng)尺寸偏差選定為表１主要尺寸Ⅱ等級(jí)的瓷件，其圓度公差不應(yīng)超過(guò)該表非主要尺寸欄中等級(jí)Ｉ規(guī)定的上（或下）極限偏差的絕對(duì)值。

c）若未規(guī)定偏差等級(jí)時(shí)，則按表1非主要尺寸欄中等級(jí)Ｉ的上（或下）極限偏差的規(guī)定。

5.2.4.2濕法成形瓷件不應(yīng)超過(guò)（0.01d+2.5）mm（ｄ為直徑，單位為mm）。

 

5.2.5同軸度

瓷件的同軸度公差規(guī)定如下：

ａ）干法成形瓷件不應(yīng)超過(guò)表1主要尺寸欄中等級(jí)Ｉ或等級(jí)Ⅱ規(guī)定的上（或下）極限偏差的絕對(duì)值。其尺寸按大圓直徑確定。若未規(guī)定偏差等級(jí)時(shí)，則按等級(jí)Ⅱ的規(guī)定。

ｂ）濕法成形瓷件應(yīng)不超過(guò)表2主要尺寸欄中等級(jí)Ⅱ或非主要尺寸欄規(guī)定的上（或下）極限偏差的絕對(duì)值。尺寸按大圓直徑確定。若未規(guī)定偏差等級(jí)時(shí)，則按非主要尺寸欄的規(guī)定。

 

5.3瓷件的外觀質(zhì)量

 

5.3.1瓷件應(yīng)在規(guī)定的部位均勻地上一層光滑、發(fā)亮并堅(jiān)硬的釉，釉面應(yīng)無(wú)裂紋和影響其良好運(yùn)行性能的其他缺陷。釉不應(yīng)有顯著的色調(diào)不均現(xiàn)象，但因釉較薄而顏色較淺是允許的，例如在半徑較小的邊緣部位的釉面。

5.3.2瓷件表面缺陷不應(yīng)超過(guò)表5的規(guī)定，且不應(yīng)影響瓷件的安裝和連接。

5.3.3堆釉、折痕、壓痕的高度或深度不應(yīng)超過(guò)表5的規(guī)定，刀痕和波紋的深度不應(yīng)超過(guò)0.5mm，這些缺陷不計(jì)算在表5缺陷總面積內(nèi)。

5.3.4瓷件的釉面針孔不應(yīng)超過(guò)（瓷件總面積（mm2）/100)ｘ３個(gè)。

5.3.5瓷件焙燒支承部位不上釉面不算作缺陷，但其不上釉高度不應(yīng)超過(guò)3mm。

5.3.6瓷件螺紋缺牙長(zhǎng)度不應(yīng)超過(guò)瓷螺紋總長(zhǎng)的10％，且不應(yīng)影響其配合。

5.3.7瓷件重要部位表面單個(gè)缺陷面積應(yīng)不超過(guò)表5規(guī)定的單個(gè)缺陷面積的0.8倍。（瓷件的重要部位應(yīng)在圖樣上注明）

 

5.4干法成形瓷件的吸水率

干法成形瓷件的吸水率不應(yīng)超過(guò)0.8％。

 

5.5濕法成形瓷件的孔隙性

濕法成形瓷件的剖面應(yīng)均質(zhì)致密，經(jīng)孔隙性試驗(yàn)后不應(yīng)有任何滲透現(xiàn)象。

 

5.6溫度循環(huán)試驗(yàn)要求

瓷件應(yīng)能耐受三次冷熱溫差為70K的溫度循環(huán)試驗(yàn)而不損壞。瓷件在冷水和熱水中停留時(shí)問(wèn)均為15min。

 

5.7干法成形低壓電器瓷件的電氣和機(jī)械性能試驗(yàn)要求

5.7.1干法成形的低壓電器瓷件，應(yīng)能耐受表6規(guī)定的工頻試驗(yàn)電壓1min而不擊穿或閃絡(luò)。

5.7.2干法成形的低壓電器瓷件，其絕緣電阻不應(yīng)小于２MΩ。

5.7.3干法成形的低壓電器瓷件，其機(jī)械強(qiáng)度應(yīng)符合如下規(guī)定：

ａ）試樣的沖擊彎曲強(qiáng)度不低于1.3kJ／m2;

ｂ）瓷件的打擊試驗(yàn)的強(qiáng)度和次數(shù)由產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定或供需雙方協(xié)議。

 

 

六 試驗(yàn)方法

 

6.1外觀檢查

外觀檢查以目力觀察方法進(jìn)行，必要時(shí)使用量具，如瓷件表面有細(xì)小氣泡或顏色不均而不能判斷絕緣體是否良好時(shí)，應(yīng)選出具有上述缺陷的代表性產(chǎn)品進(jìn)行剖面檢查或作孔隙性試驗(yàn)，如剖面檢查發(fā)現(xiàn)瓷質(zhì)不致密（有大量氣孔）或有滲透現(xiàn)象時(shí)，則瓷件不合格。

 

6.2尺寸檢查

檢查時(shí)應(yīng)采用游標(biāo)卡尺、直尺等標(biāo)準(zhǔn)量具或特制量具進(jìn)行測(cè)量。

 

6.3形位公差檢查

 

6.3.1平行度

測(cè)量時(shí)，將試品直立安裝在旋轉(zhuǎn)平臺(tái)中心，平臺(tái)表面與旋轉(zhuǎn)軸線應(yīng)垂直（見(jiàn)圖1）。頂端端面上用合適的方法將一塊厚度（不小于15mm）均勻的圓板同心地固定在試品上，旋轉(zhuǎn)平臺(tái)一周，用千分表測(cè)量圓板上直徑為100mm處表面至支架橫梁間的距離（即圖1中A的距離），計(jì)算其最大值與最小值之差即為端面平行度公差。

也可將瓷件（包括瓷套或瓷板類）置于平臺(tái)中心，直接測(cè)量瓷件上端表面至支架橫梁間的距離。

注：如產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)未注明測(cè)量部位尺寸時(shí)，在產(chǎn)品上的實(shí)際測(cè)量值應(yīng)換算為直徑100mm處的數(shù)值。

6.3.2平面度

測(cè)量時(shí)，用刀口尺或直尺與被測(cè)試品表面直接接觸，并使兩者之間的最大間隙為最小，用塞尺（厚薄規(guī)）測(cè)量最大間隙，在表面上各點(diǎn)測(cè)量中的最大間隙（t）為試品表面的平面度公差，如圖2所示。

6.3.3圓度

檢查時(shí)，測(cè)量垂直于軸線的同一截面上任意兩個(gè)直徑方向的最大直徑與最小直徑，其差值的一半作為圓度公差測(cè)量的近似值。

6.3.4同軸度

使用與6.3.1相同的安裝方法（見(jiàn)圖1）。當(dāng)瓷件在平臺(tái)上轉(zhuǎn)動(dòng)一周時(shí)用千分表讀取圓板外緣處與支架與支柱間的距離（即圖1中B的距離），其最大值與最小值之差的一半即為同軸度公差。也可將（例如有加工圓柱面的）瓷件置于平臺(tái)中心，當(dāng)瓷件在平臺(tái)上轉(zhuǎn)動(dòng)一周時(shí)直接用千分表測(cè)量瓷件與支架橫梁間的距離。

 

6.4溫度循環(huán)試驗(yàn)

試驗(yàn)程序按GB/T1001.1-2003中第24章的規(guī)定。

 

6.5孔隙性試驗(yàn)

試驗(yàn)程序按GB/T1001.1-2003中第26章的規(guī)定。

 

6.6吸水率試驗(yàn)

 

6.6.1試品

試品應(yīng)是從瓷件上敲下來(lái)的小塊，其重量為30g-50g，或是小型瓷件的整個(gè)瓷件的部分（應(yīng)有斷裂面），試塊的上釉面（包括焙燒支承面）一般不應(yīng)超過(guò)試塊表面積的30％，表面應(yīng)干凈無(wú)油污，且無(wú)敲擊瓷件形成的可見(jiàn)裂紋。

6.6.2試驗(yàn)程序

試驗(yàn)時(shí)，將試塊全部浸入盛有潔凈的蒸餾水的容器內(nèi)，并使水面高于瓷塊上表面50mm，試塊在水中停留24h。在前4h，水應(yīng)保持沸騰，水由冷至沸騰的時(shí)間不應(yīng)超過(guò)30min（此時(shí)間包括在4h內(nèi)）。從第5h開(kāi)始冷卻，到第24h末取出試塊。然后用擰干的濕紗布（或?yàn)V紙）吸去試塊表面的水分，并立即稱量（為保持試塊濕度，可將其置于玻璃器皿中）。然后在110℃±5℃的溫度下干燥至恒重。稱量前，試塊應(yīng)放在干燥器內(nèi)冷卻至周?chē)諝鉁囟?。稱量準(zhǔn)確度為0.001g。

6.6.3實(shí)驗(yàn)結(jié)果計(jì)算

瓷件的吸水率，按下式計(jì)算：吸水率=（m1-m2）/m2×100%

式中：

m1——試塊干燥前的重量，單位為ｇ；

m2——試塊干燥后的重量，單位為ｇ。

吸水率計(jì)算準(zhǔn)確到小數(shù)點(diǎn)后兩位數(shù)字。瓷件吸水率以各試塊吸水率的算術(shù)平均值計(jì)算。

 

6.7工頻耐受電壓試驗(yàn)

 

6.7.1試驗(yàn)的一般條件

試驗(yàn)的大氣條件和試驗(yàn)電壓應(yīng)符合GB/T16927.1的規(guī)定。

6.7.2試驗(yàn)設(shè)備與裝置

試驗(yàn)用變壓器的容量應(yīng)不小于0.5kVA。

試驗(yàn)用試驗(yàn)箱（或者恒濕箱）的容積應(yīng)不小于瓷件連同座臺(tái)所占容積的三倍，試驗(yàn)裝置如圖3所示。

6.7.3試驗(yàn)程序．

試驗(yàn)時(shí)，試驗(yàn)箱內(nèi)應(yīng)注以深度不小于20mm的水，蓋好箱蓋，至少停留4h，使水自然蒸發(fā)至箱內(nèi)空氣相對(duì)濕度為95％±3％（必要時(shí)可適當(dāng)?shù)丶訜幔瑴囟葹?0℃±５℃，然后將瓷件置于箱內(nèi)的金屬網(wǎng)臺(tái)上（如果瓷件是安裝在電氣設(shè)備內(nèi)的，可將電氣設(shè)備放入，但應(yīng)將其箱殼打開(kāi)），瓷件與試驗(yàn)箱蓋的距離應(yīng)不小于30mm。試驗(yàn)電極按具體產(chǎn)品要求連接。瓷件在箱內(nèi)停留24h。然后在相對(duì)濕度65％±15％條件下，加上工頻電壓。試驗(yàn)電壓應(yīng)在近似于零電壓時(shí)開(kāi)始，然后以能夠讀出電壓表指針指示的速度升高至表6規(guī)定的試驗(yàn)電壓，保持1min，瓷件不應(yīng)被擊穿或閃絡(luò)。

 

6.8絕緣電阻測(cè)量

 

6.8.1試驗(yàn)時(shí)一般條件和試驗(yàn)裝置

試驗(yàn)的一般條件和試驗(yàn)裝置按6.7的規(guī)定。

6.8.2試驗(yàn)程序

按6.7.3的規(guī)定將瓷件置于試驗(yàn)箱內(nèi)，并停留24h，然后在相對(duì)濕度65％±15％的條件下。用500V的高阻計(jì)或兆歐表（絕緣電阻表）測(cè)量瓷件的絕緣電阻。

 

6.9擊彎曲強(qiáng)度試驗(yàn)

 

6.9.1試樣

本項(xiàng)（對(duì)于干法成形瓷件）試驗(yàn)的試樣截面為方形，其形狀和尺寸如圖4所示。

6.9.2試驗(yàn)設(shè)備

采用微型沖擊強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)，示值相對(duì)誤差不超過(guò)±1％，沖擊擺錘最大能量500N·mm。

6.9.3試驗(yàn)程序

首先測(cè)量試樣尺寸，在中心位置測(cè)量試樣的高度與寬度，精確到0.02mm。

調(diào)整試驗(yàn)機(jī)測(cè)量指針的零點(diǎn)。調(diào)節(jié)兩個(gè)支架之間的距離至70mm。把試樣放置在支架上，沖擊擺錘擺動(dòng)面應(yīng)與試樣的軸線垂直，并對(duì)準(zhǔn)試樣的中心，將擺錘提升到最高位置鎖住，然后松開(kāi)擺錘，使之自由落下，擊斷試樣。

6.9.4結(jié)果計(jì)算

沖擊彎曲強(qiáng)度按下式計(jì)算：

 

6.10打擊試驗(yàn)

 

試驗(yàn)應(yīng)在專用的裝置上進(jìn)行。該裝置應(yīng)能使試品由于受落體打擊而產(chǎn)生沖擊壓力。試品受力點(diǎn)及與支座支承面間不應(yīng)有軟性襯墊，落體錘頭及支座用硬質(zhì)有機(jī)材料制成。試驗(yàn)裝置推薦如圖5所示。

打擊試驗(yàn)的強(qiáng)度和次數(shù)見(jiàn)5.7.3b）。

瓷件經(jīng)試驗(yàn)后，如果未破碎，或者沒(méi)有碎塊掉落和肉眼能發(fā)現(xiàn)的開(kāi)裂，則認(rèn)為通過(guò)本試驗(yàn)。

 

 

七 實(shí)驗(yàn)分類和項(xiàng)目

 

7.1試驗(yàn)分類

瓷件的試驗(yàn)分為逐個(gè)試驗(yàn)、抽樣試驗(yàn)和型式試驗(yàn)。

 

7.2逐個(gè)試驗(yàn)

瓷件應(yīng)按表７的規(guī)定逐個(gè)進(jìn)行檢驗(yàn)（序號(hào)2、3兩項(xiàng)的具體檢查項(xiàng)目按供需雙方協(xié)議進(jìn)行），如果發(fā)現(xiàn)有瓷件不符合表中規(guī)定的任何一項(xiàng)要求，則此瓷件不符合本標(biāo)準(zhǔn)要求，應(yīng)予以剔除。

 

7.3抽樣試驗(yàn)

 

7.3.1抽樣規(guī)則

瓷件應(yīng)按批進(jìn)行驗(yàn)收。以同一工藝方法制成的同一型號(hào)（規(guī)格）的瓷件算作一批，每批數(shù)量不作規(guī)定。

瓷件應(yīng)按批進(jìn)行抽樣試驗(yàn)。抽樣試驗(yàn)應(yīng)在逐個(gè)試驗(yàn)合格后的批中隨機(jī)抽取試品進(jìn)行。抽樣規(guī)則按JB/T3384的規(guī)定，本標(biāo)準(zhǔn)采用計(jì)件二次抽樣方案。

從表8批量（N）和檢查水平查出樣本容量字碼，在表9查出其樣本容量。

如無(wú)特殊規(guī)定，尺寸及形位偏差檢查采用S-4的檢查水平，其余試驗(yàn)項(xiàng)目為S-3的檢查水平。

7.3.2抽樣方案

抽樣方案見(jiàn)表9。

如無(wú)特殊規(guī)定，尺寸及形位偏差檢查的接收質(zhì)量水平（AQL）為6.5％，其余試驗(yàn)項(xiàng)目為4.0％。

7.3.3抽樣試驗(yàn)項(xiàng)目

抽樣試驗(yàn)項(xiàng)目規(guī)定于表10。

7.3.4試驗(yàn)結(jié)果判斷

抽樣試驗(yàn)的各項(xiàng)按該項(xiàng)的樣本容量進(jìn)行試驗(yàn)，試驗(yàn)后按該項(xiàng)的接收質(zhì)量水平（AQL）進(jìn)行結(jié)果判斷。如果第一樣本中的不合格品數(shù)d1≤Ac1，則該項(xiàng)合格；若d1≥Re1，則該項(xiàng)不合格；若Ac1＜d1＜Re1，則應(yīng)在該批中重新再抽取第二樣本n2進(jìn)行該項(xiàng)的重復(fù)試驗(yàn)。在第二樣本中的不合格品數(shù)d2加上第一樣本中的不合格品數(shù)d1，即兩次聯(lián)合樣本中的不合格品數(shù)之和，若d1+d2≤Ac2，則該項(xiàng)合格，若d1+d2≥Re2，則該項(xiàng)不合格。

試驗(yàn)后，如果所有各項(xiàng)均合格，則接收該批。如果有一項(xiàng)及以上試驗(yàn)項(xiàng)目不符合要求，則拒收該批。但若僅尺寸或形位公差檢查不符合要求，允許逐個(gè)進(jìn)行檢查，符合要求的產(chǎn)品則可以出廠。

 

7.4型式試驗(yàn)

新產(chǎn)品試制定型或正常產(chǎn)品修改結(jié)構(gòu)、改變?cè)牧吓浞郊肮に嚪椒〞r(shí)，必須進(jìn)行型式試驗(yàn)。正常生產(chǎn)的產(chǎn)品每四年（定期）至少進(jìn)行一次型式試驗(yàn)。型式試驗(yàn)項(xiàng)目規(guī)定于表11。

表11所列的型式試驗(yàn)項(xiàng)目中，序號(hào)1、序號(hào)2、序號(hào)3的試驗(yàn)每個(gè)項(xiàng)目?jī)H允許不超過(guò)一只試品不符合要求，若此三個(gè)項(xiàng)目中有一個(gè)項(xiàng)目中不符合要求試品數(shù)超過(guò)一只，則型式試驗(yàn)不合格。除以上三個(gè)試驗(yàn)項(xiàng)目外，其他項(xiàng)目中即使只有一只試品不符合要求，則型式試驗(yàn)不合格。

 

 

八 包裝與標(biāo)志

 

8.1瓷件的包裝必須保證在正常運(yùn)輸途中不致因包裝不良而損壞瓷件。

 

8.2瓷件應(yīng)按圖樣規(guī)定的部位清楚而牢固地標(biāo)出制造廠商標(biāo)和制造年份（小型瓷件無(wú)法標(biāo)記時(shí)可以不標(biāo)）。

 

8.3瓷件包裝箱（或簍）上應(yīng)標(biāo)明：

a）制造廠名稱；

b）瓷件型號(hào)（或代號(hào)）；

c）瓷件數(shù)量；

d）包裝箱的重量；

e）符合GB/T191規(guī)定的“易碎物品”、“禁止翻滾”標(biāo)志圖形。

 

8.4隨著每批送交的瓷件應(yīng)附有產(chǎn)品檢驗(yàn)合格證，此證應(yīng)有制造廠技術(shù)檢驗(yàn)部門(mén)的印章。